失效分析(FA)是半导体制造中实现足够良率的关键环节,但如今它已难以跟上更小芯片尺寸、先进封装技术和新型电源传输架构发展的步伐。所有这些技术发展都使得缺陷更难被发现,修复成本也更高,从而影响了芯片和系统的可靠性。当晶体管尺寸较大且互连线路更易于触及时 ...
20 小时
财联社 on MSN芯和半导体拟出让控股权 EDA行业整合加速《科创板日报》3月17日讯(记者 陈俊清) EDA领域再现一起并购。
一些您可能无法访问的结果已被隐去。
显示无法访问的结果一些您可能无法访问的结果已被隐去。
显示无法访问的结果