对循环后锂电极的XPS分析显示，CN-NK@PP隔膜形成的SEI以LiF为主，且氩离子刻蚀50 nm后溶剂分解产物基本消失（图3s），表明其SEI厚度较薄。而CN-NW@PP与 ...

之前的研究揭示了SiO x 不受限制的膨胀-收缩过程导致固体电解质界面（SEI）增厚，并最终导致电子渗透网络的击穿（Nat. Comm., 2023, 14, 6048）。